Semi-conducteurs
cas d’application
un besoin spécifique ?
Décrivez vos conditions process, votre canalisation et votre produit, un expert vous répondra.
Contrôle qualité de la solution de nettoyage après le décapage à sec
Associé aux technologies photolithographiques, le décapage à sec constitue une étape essentielle dans la fabrication de semi-conducteurs, où la précision et la propreté des surfaces conditionnent directement la performance des circuits. Ce procédé vise à éliminer efficacement les résidus grâce à des solutions chimiques spécialisées, dont la concentration doit rester parfaitement maîtrisée. La qualité du nettoyage influence fortement la fiabilité des puces électroniques, tout comme dans les applications de contrôle qualité de la solution de nettoyage après le décapage à sec ou encore les besoins de mesure de débit en salle blanche.
Les limites des méthodes traditionnelles de contrôle
Pendant longtemps, aucune solution de surveillance en ligne ne permettait d’assurer la stabilité de la solution de nettoyage. Les industriels dépendaient de contrôles manuels : prélèvements réguliers, analyses en laboratoire, procédures longues et coûteuses. Cette méthode intermittente ne permettait pas d’anticiper la dérive de la concentration, notamment l’augmentation du produit actif liée à l’évaporation progressive de l’eau. Une solution trop concentrée réduit l’efficacité du nettoyage, entraînant parfois le retraitement ou le rebut de lots complets de wafers, avec des pertes économiques considérables. Ce besoin de fiabilité est comparable aux enjeux rencontrés dans l’industrie des semi-conducteurs, où la stabilité des fluides process est critique.
Un réfractomètre en ligne pour un contrôle continu et précis
L’intégration d’un réfractomètre industriel en ligne transforme le contrôle du bain de nettoyage. Installé en dérivation sur le système de lavage-rinçage-séchage, l’appareil mesure en continu la concentration du produit nettoyant et la teneur en eau. Cette surveillance instantanée garantit le maintien des paramètres critiques, stabilise la qualité du nettoyage et prolonge la durée de vie de la solution. La maîtrise du process contribue aussi à réduire la consommation de produits chimiques et à limiter les cycles incorrects, dans une logique similaire aux solutions de mesure de débit des gaz divers dans la production des semi-conducteurs.
Avantages
• Amélioration de l’efficacité du nettoyage et réduction des pertes financières liées aux cycles incorrects
• Contrôle continu et fiable grâce à une surveillance en ligne en temps réel
• Intégration simple en bypass dans les systèmes de lavage, rinçage et séchage
• Haute précision, stabilité durable et absence de dérive des mesures
• Transmission des données selon les protocoles définis par l’utilisateur
• Autodiagnostic intégré permettant une maintenance préventive efficace
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Contrôle qualité de la solution de nettoyage après le décapage à sec
Associé aux technologies photolithographiques, le décapage à sec constitue une étape essentielle dans la fabrication de semi-conducteurs, où la précision et la propreté des surfaces conditionnent directement la performance des circuits. Ce procédé vise à éliminer efficacement les résidus grâce à des solutions chimiques spécialisées, dont la concentration doit rester parfaitement maîtrisée. La qualité du nettoyage influence fortement la fiabilité des puces électroniques, tout comme dans les applications de contrôle qualité de la solution de nettoyage après le décapage à sec ou encore les besoins de mesure de débit en salle blanche.
Les limites des méthodes traditionnelles de contrôle
Pendant longtemps, aucune solution de surveillance en ligne ne permettait d’assurer la stabilité de la solution de nettoyage. Les industriels dépendaient de contrôles manuels : prélèvements réguliers, analyses en laboratoire, procédures longues et coûteuses. Cette méthode intermittente ne permettait pas d’anticiper la dérive de la concentration, notamment l’augmentation du produit actif liée à l’évaporation progressive de l’eau. Une solution trop concentrée réduit l’efficacité du nettoyage, entraînant parfois le retraitement ou le rebut de lots complets de wafers, avec des pertes économiques considérables. Ce besoin de fiabilité est comparable aux enjeux rencontrés dans l’industrie des semi-conducteurs, où la stabilité des fluides process est critique.
Un réfractomètre en ligne pour un contrôle continu et précis
L’intégration d’un réfractomètre industriel en ligne transforme le contrôle du bain de nettoyage. Installé en dérivation sur le système de lavage-rinçage-séchage, l’appareil mesure en continu la concentration du produit nettoyant et la teneur en eau. Cette surveillance instantanée garantit le maintien des paramètres critiques, stabilise la qualité du nettoyage et prolonge la durée de vie de la solution. La maîtrise du process contribue aussi à réduire la consommation de produits chimiques et à limiter les cycles incorrects, dans une logique similaire aux solutions de mesure de débit des gaz divers dans la production des semi-conducteurs.
Avantages
• Amélioration de l’efficacité du nettoyage et réduction des pertes financières liées aux cycles incorrects
• Contrôle continu et fiable grâce à une surveillance en ligne en temps réel
• Intégration simple en bypass dans les systèmes de lavage, rinçage et séchage
• Haute précision, stabilité durable et absence de dérive des mesures
• Transmission des données selon les protocoles définis par l’utilisateur
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